Die Vorsitzenden des Unterausschusses Digitale Radiographie, Dr. Uwe Zscherpel und
Dr. Klaus Bavendiek, und des Unterausschusses Computertomographie, Dr. Stefan Kasperl
und Dr. Frank Herold, luden am 5. und 6. Juni 2018 zur YXLON International GmbH nach Hamburg ein.
Neben den allgemeinen, organisatorischen Tagungspunkten und dem Austausch zum Stand laufender Projekte gab es ausreichend Gelegenheit für den Gastgeber, den rund 30 Gästen im Rahmen von Werksführungen und Demonstrationen an den aktuellen Röntgen- und CT-Systemen neue Entwicklungen und Forschungsergebnisse vorzustellen. So wurde im Unterausschuss CT unter anderem die ASTM E 1695 Bildgüteprüfung mit YXLONs Open Source Software vorgestellt, und in beiden Gremien wurde das aktuelle Projekt der Brennfleckgrößenbestimmung im Mikro- und Nanofokusbereich mit der HiCo-Maske im Vergleich zur JIMA-Maske demonstriert und von den Experten intensiv diskutiert.
Die nächste Sitzung der Unterausschüsse DR, CT und Ausbildung RT wird gemeinsam mit dem Fachausschuss Durchstrahlungsprüfung am 27. und 28. November 2018 an der TU München in Garching stattfinden.
