Arbeitskreis Berlin - Deutsche Gesellschaft für Zerstörungsfreie Prüfung e.V.

Menü

© BerlinPictures / stock.adobe.com

Arbeitskreis Berlin

Arbeitskreis Berlin

467. Sitzung

Datum:

11.12.2025

Beginn:

16:00 Uhr

Ort:

Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung
Unter den Eichen 87
12205 Berlin
Haus 30, Raum 07.803
Lageplan

Der Zugang zum BAM Gelände ist nur für angemeldete Besucher möglich.
Eine Anmeldung ist daher bis spätestens zwei Tage vor der Sitzung erforderlich.

Zur Arbeitskreissitzung anmelden

* Pflichtfelder

Name*

E-Mail*

Firma*

Bemerkungen

Dieses Feld wird bei der Anzeige des Formulars ausgeblendet

Termin ID

Dieses Feld wird bei der Anzeige des Formulars ausgeblendet

Zeit

Dieses Feld wird bei der Anzeige des Formulars ausgeblendet

Datum

Dieses Feld wird bei der Anzeige des Formulars ausgeblendet

Gremium

Dieses Feld wird bei der Anzeige des Formulars ausgeblendet

Sitzungsort

Dieses Feld wird bei der Anzeige des Formulars ausgeblendet

Anfahrt

Dieses Feld wird bei der Anzeige des Formulars ausgeblendet

Agenda

<div class="event-program">
                            <div class="event-program--content" style="margin-bottom: 12px">
                                                                                                            <p style="margin: 0;color: #095569;font-family: 'Source Sans Pro', Arial;font-size: 15px"><span style="color: #095569;font-family: 'Source Sans Pro', Arial;font-size: 15px"><strong>Röntgenmikroskopie für zerstörungsfreies 3D Imaging – Strukturen im Sub-Mikrometerbereich verstehen</strong></span>
                                        </p>
                                                                        
                                                                                                                                                                                                                        <p style="margin: 0;color: #095569;font-family: 'Source Sans Pro', Arial;font-size: 15px"><span style="color: #000;font-family: 'Source Sans Pro', Arial;font-size: 15px">Christian Straube, ZEISS Research Microscopy Deutschland GmbH, Oberkochen</span>
                                        </p>
                                    
                                                                                                                                    </div>
                        </div>

Dieses Feld wird bei der Anzeige des Formulars ausgeblendet

Board

Name

Dieses Feld dient zur Validierung und sollte nicht verändert werden.

Programm

Röntgenmikroskopie für zerstörungsfreies 3D Imaging – Strukturen im Sub-Mikrometerbereich verstehen

Christian Straube, ZEISS Research Microscopy Deutschland GmbH, Oberkochen

Teilnahmebestätigung

Die Teilnahme an Arbeitskreissitzungen ist kostenfrei und wird im Rahmen der Rezertifizierung nach DIN EN ISO 9712:2022-09 anerkannt. Laden Sie sich das Teilnahmeformular herunter, füllen Sie es aus und lassen Sie es sich von der Arbeitskreisleitung unterschreiben.

Teilnahmebestätigung herunterladen

Kommen Sie zu uns, wenn ZfP Ihre Leidenschaft ist

Werden Sie Teil unserer einzigartigen Gemeinschaft und entdecken Sie alle Mitgliedervorteile.

Jetzt Mitglied werden

Wir beraten Sie gern und freuen uns auf Ihre Nachricht

Deutsche Gesellschaft für Zerstörungsfreie Prüfung

Max-Planck-Straße 6
12489 Berlin

Telefon: +49 30 67807-0

Kontaktieren Sie uns