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Fachausschuss Durchstrahlungsprüfung

Profil

Der Fachausschuss „Durchstrahlungsprüfung (RT)“ (FA D) wurde 1978 gegründet und hat die folgenden allgemeinen Zielstellungen:

  • Er dient dem Informations- und Erfahrungsaustausch über Tendenzen, Arbeitskreise und Ausschüsse, neue Richtlinien und Normen zur industriellen Radiologie.
  • Er kommuniziert Informationen zur Arbeit der Unterausschüsse „Ausbildung RT“ und „Computertomographie (CT)“, Vorträge und Firmenpräsentationen sowie Anwendungen künstlicher Intelligenz und NDT 4.0.
  • Berichte für andere Fachausschüsse (z.B. ZfP 4.0) und die Mitarbeit der Mitglieder werden koordiniert.
  • Vorträge und Arbeitskonzepte zu aktuellen Fragen der Computerunterstützung, zum notwendigen Strahlenschutz, zu Kompetenzanforderungen der ZfP und von Ringversuchen werden hier diskutiert.
  • Der FA D organisiert regelmäßig ein eintägiges Praxisseminar zur Durchstrahlungsprüfung und zum Strahlenschutz (D+S-Seminar) sowie das 3-tägige internationale „Symposium on Digital Industrial Radiology and Computed Tomography“ (DIR). Das letzte D+S-Seminar fand am 07. März 2024 in Leipzig statt. Die nächste DIR2025 wird vom 01. – 03. Juli 2025 in Paris Saint-Martin, gemeinsam mit COFREND und CEA in Frankreich stattfinden.

Im FA D ist seit 1987 der Unterausschuss „Computertomographie (CT)“ zu Fragen der industriellen Anwendung der Computertomographie aktiv. Der Fachausschuss unterstützt auch den Unterausschuss „Durchstrahlungsprüfung“ im Fachausschuss „ZfP im Bauwesen“ sowie den Unterausschuss „Ausbildung RT“ im ABAF der DGZfP.

Wesentlicher Schwerpunkt der Arbeit des FA D ist die Erarbeitung und Herausgabe von Richtlinien und Merkblättern (derzeit die Richtlinien D 01 bis D 08 sowie das Merkblatt B 01). Die Diskussion der internationalen Normung im Bereich RT der ZfP erfolgt ständig.

Leitung
Vorsitzender

Dr. rer. nat. Uwe Zscherpel

Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)

Stellvertreter

Dr.-Ing. Klaus Bavendiek

Stellvertreter

Dr. rer. nat. Uwe Ewert

Stellvertreter

Prof. Dr. Stefan Kasperl

Fraunhofer-Institut für Integrierte Schaltungen IIS, Entwicklungszentrum Röntgentechnik

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