Der Wissenschaftspreis

Der Wissenschaftspreis wurde von der DGZfP bis zum Jahr 2024 an Wissenschaftler*innen für eine herausragende und innovative wissenschaftliche Leistung zur Entwicklung der Zerstörungsfreien Prüfung verliehen.

Seit dem Jahr 2025 wird der Science Award verliehen.

 

  • Mit dem Wissenschaftspreis ausgezeichnete Personen
    2024 Dr. Julien Lecompagnon
    Nondestructive defect characterization using full-frame spatially structured super resolution laser thermography
    2023 Dr. Sebastian M. Barton
    Zerstörungsfreie Bewertung des Randzonenzustands und Schädigungsgrads in Nickelbasislegierungen infolge von Hochtemperaturkorrosion
    2022 Dr. Christopher Petry
    Weiterentwicklung der Shearografie mit räumlichem Phasenschieben als zerstörungsfreies Prüfverfahren für die automatisierte Serienüberwachung
    2021 Dr. Tobias Fritsch
    A Multiscale Analysis of Additively Manufactured Lattice Structures
    2020 Dr. Joscha Maier
    Artifact Correction and Real-Time Scatter Estimation for X-Ray Computed Tomography in Industrial Metrology
    2019 Prof. Dr. Markus G.R. Sause
    In Situ Monitoring of Fiber-Reinforced Composites: Theory, Basic Concepts, Methods, and Applications
    2018 Dr. Marija Bertovic
    Human Factors in Non-Destructive Testing (NDT): Risks and Challenges of Mechanised NDT
    2017 Dr. Michael Schrapp
    Multi Modal Data Fusion in Industrial X-ray Computed Tomography
    2015 Dr. Bernd Randolf Müller
    Synchrotronstrahlung: verbesserte Refraktions- und Absorptions-Mikro-CT für die zerstörungsfreie Materialcharakterisierung
    2014 Dr. Christian Schorr
    Optimierung iterativer Rekonstruktionsverfahren bei unvollständigen Daten zur Anwendung in der Computerlaminographie
    2013 Der Wissenschaftspreis wurde 2013 nicht vergeben.
    2012 Der Wissenschaftspreis wurde 2012 nicht vergeben.
    2011 Der Wissenschaftspreis wurde 2011 nicht vergeben.
    2010 Dr. Klaus Szielasko
    Entwicklung messtechnischer Module zur mehrparametrischen elektromagnetischen Werkstoffcharakterisierung und -prüfung